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  • 便携式TOFD-HS810TOFD双屏双控模式

  • 所属分类:超声检测

  • 点击次数:852
  • 发布日期:2017-3-5 2017/05/24
详细介绍

HS810功能特点:

l 高亮度高分辨力彩色液晶显示屏。


l 内置探头位置编码器。


l USB,LAN,VGA输出接口。


l 大容量数据存储空间。


l 支持纵波、横波、导波和表面波等模式。


l 具备A扫、B扫、C扫、CB扫、P扫和TOFD成像。


l 单次扫查能记录长达20米。


l 回放图像记录中每点位置的A扫波形。


l 强化的对活动或冻结的A扫波形信号评估软件。


l 缺陷尺寸和模式分析。


l GB/T4730、EN12668、BS 7706、ASTM、ASME、ENV583 、CEN -14751、NEN 1822、DNV、API、RBIM等标准及新容规、锅规的技术要求


l 可根据用户要求增减TOFD配置,最多可配置10个通道8个探头同时扫查和记录200mm厚度工件。


l 配置便于使用的手动、自动扫查器。

HS810便携式TOFD双通道超声波检测仪主要技术性能指标


独立工作通道数

2、4、6、10

最多连接探头

10

脉冲类型

负方波脉冲

脉冲前沿

15 ns

脉冲宽度

50 ns-1000ns连续可调。

工作方式

最多10个通道(3对TOFD探头、4路PE)

阻抗匹配

25Ω /500Ω

扫描范围

零界面入射——1400mm钢纵波

采样频率/位数

125MHZ/12bits

重复频率:

25-800Hz。

实时平均

1-8

检波方式:

数字检波

衰减器精度:

<<>+1dB/12dB

工作频率:

0.5~15 MHz

声速范围:

300~20000 m/s

动态范围:

≥30dB

垂直线性误差:

≤4%

水平线性误差:

≦0.3%

分辨力:

>36dB(5P14)

灵敏度余量:

>60dB(深200mmΦ2平底孔)

波形显示方式

射频波,检波 (全波、负或正半波),信号频谱(FFT)。

成像模式:

根据选择的操作模式和相应的仪器设置显示B扫、C扫、CB扫、D扫、P扫。

直线扫查长度

50~20000 mm自动滚屏

记录方法

完全原始数据记录

离线图象分析:

· 恢复和回放扫查时记录的A扫波形。


· 缺陷尺寸和轮廓。


· 厚度/幅度数据统计分析。


· 记录转换到ASCII/MS Word/MS Excel格式报告。


数据报告:

直接打印校验表、A扫、频谱图、B扫图像、C扫图像、CB图像、TOFD图像、D扫图像、P扫图像。

内存:

1 G

闪存- Quasi HDD:

4 G

输出:

LAN, USB2.0, VGA

显屏:

6.5" 高亮真彩色高分辨率 (32 bit) SVGA 640×480 像素 133×98 mm,日光可读 LCD;最大 A扫尺寸 –130×92 mm

控制:

前板密封键盘,鼠标,飞梭。

兼容外部设备:

USB键盘和鼠标,USB闪存卡,通过USB或LAN打印,通过USB或LAN连接PC,SVGA外接显示器。

操作系统:

仪器在WinCE环境下工作。全兼容在Windows? 98SE, Windows? 2000, Windows? XP,Vista,Win7下工作的外接计算机,外接计算机通过网络或USB连接进行离线数据分析和报告。

环境温度:

(-10--40)°C(参考值)

相对湿度:

(20--95)%RH


包装:

进口高强度硬塑箱。

尺寸:

240×160×80 mm含电池

重量:

2.4kg含电池


l 配置TOFD探头和PE探头、导波探头。